在找晶體管檢測機構？百檢網(wǎng)為您提供晶體管檢測服務，專業(yè)工程師對接確認項目、標準后制定方案，包括晶體管檢測周期、報價、樣品等，確認無誤后安排寄樣檢測，晶體管檢測常規(guī)周期3-15個工作日，歡迎咨詢。

檢測樣品：紡織品、化妝品、食品、農(nóng)產(chǎn)品、絕緣工具、五金件等

報告資質(zhì)：CNAS/CMA/CAL

報告周期：常規(guī)3-15個工作日，特殊樣品、檢測項目除外。

檢測費用：根據(jù)檢測項目收費，詳情請咨詢百檢網(wǎng)。

晶體管檢測項目：

發(fā)射極-基極擊穿電壓V(BR)EBO,發(fā)射極-基極截止電流IEBO,基極-發(fā)射極飽和電壓VBEsat,正向電流傳輸比hFE,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CEO,集電極-發(fā)射極截止電流ICEO,集電極-發(fā)射極截止電流ICER,集電極-發(fā)射極截止電流ICES,集電極-發(fā)射極截止電流ICEX,集電極-發(fā)射極飽和電壓VCEsat,集電極-基極擊穿電壓V(BR)CBO,集電極-基極截止電流ICBO,漏源擊穿電壓,集電極-發(fā)射極擊穿電壓,發(fā)射極-基極截至電流IEBO,發(fā)射極電流為零時的集電極-基極擊穿電壓V(BR)CBO,基極-發(fā)射極飽和電壓VBEsat,常溫功率老煉,集電極-發(fā)射極截至電流ICEO,集電極-發(fā)射極飽和電壓VCEsat,集電極-基極截至電流ICBO,高溫反偏老煉,基射極電壓,射基極關態(tài)電流,射基極反向擊穿電壓,直流增益,穩(wěn)態(tài)熱阻,集基極反向擊穿電壓,集基電極關態(tài)電流,集射極反向擊穿電壓,集射極飽和壓降,集射電極關態(tài)電流,放大倍數(shù),集電極-發(fā)射極飽和電壓,放大倍數(shù)hFE,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR) CEO,密封性檢查,恒定加速度,正向電流傳輸比HFE,溫度循環(huán),穩(wěn)態(tài)功率,粒子碰撞噪聲檢測試驗（PIND）,高溫反偏,高溫壽命（非工作）,發(fā)射極-基極擊穿電壓V(BR)EBO,發(fā)射極-基極截止電流IEBO,基極-發(fā)射極飽和電壓VBEsat,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CEO,集電極-發(fā)射極飽和電壓VCEsat,集電極-基極擊穿電壓V(BR)CBO,集電極-基極截止電流ICBO,共發(fā)射極電流放大倍數(shù),發(fā)射極—基極擊穿電壓,發(fā)射極—基極間漏電流,基極—發(fā)射極間非飽和壓降,基極—發(fā)射極飽和壓降,集電極—發(fā)射極擊穿電壓,集電極—發(fā)射極漏電流,集電極—發(fā)射極間飽和壓降,集電極—基極擊穿電壓,集電極—基極反向電流,共發(fā)射極正向電流傳輸比的靜態(tài)值,發(fā)射極-基極擊穿電壓,發(fā)射極-基極截止電流,柵-源截止電壓,柵-源閾值電壓,漏極電流,集電極-發(fā)射極截止電流,集電極-基極擊穿電壓,集電極-基極截止電流,高溫壽命,擊穿電壓,截止電流,直流放大倍數(shù),飽和壓降,基極-發(fā)射極飽和電壓,共射極正向電流傳輸比,共發(fā)射極正向電流傳輸比,共射極正向電流傳輸比（HFE),發(fā)射極-基極截止電流（IEBO),基極-發(fā)射極飽和電壓（VBEsat),晶體管集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CEX,集電極-發(fā)射極截止電流（ICEO),集電極-發(fā)射極飽和電壓（VCEsat),集電極-基極截止電流（ICBO),反向擊穿電壓,正向電流傳輸比,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CEO,集電極-發(fā)射極截止電流ICEO,發(fā)射極-基極擊穿電壓V(BR)EBO,集電極-基極擊穿電壓V(BR)CBO,集電極-基極截止電流ICBO,發(fā)射極-基極截止電流IEBO

百檢檢測流程：

1、電話溝通、確認需求;

2、推薦方案、確認報價;

3、郵寄樣品、安排檢測;

4、進度跟蹤、結果反饋;

5、出具報告、售后服務;

6、如需加急、優(yōu)先處理;

晶體管檢測標準：

1、GB/T 4587-1994 《半導體分立器件和集成電路 第7部分：雙極型晶體管》 GB/T 4587-1994

2、GB/T4586-1994 半導體器件 分立器件 第8部分：場效應晶體管 第Ⅳ章 第5節(jié)

3、GB/T 128A-1997 半導體分立器件試驗方法 方法3011

4、GJB 128A-97 半導體分立器件試驗方法 GJB128A-97

5、GJB128A-97 半導體分立器件試驗方法 3011

6、MIL-STD-750F:2012 半導體測試方法測試標準 3066.1

7、GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法 方法3407

8、MIL-STD- 750F:2012 半導體分立器件試驗方法 MIL-STD-750F:2012

9、 GJB128A-1997 GB4587-94 半導體分立器件試驗方法半導體分立器件和集成電路.第7部分：雙極型晶體管 GJB128A-1997 GB4587-94 4

10、GJB128A-1997 半導體分立器件試驗方法 方法3011

11、GB/T4587-1994 半導體分立器件和集成電路 第7部分 雙極型晶體管 第Ⅳ章 第1節(jié)10

12、 GB/T 4587-1994 半導體分立器件和集成電路 第7部分：雙極型晶體管 Ⅳ 2.7

13、GB/T 4587-1994 IV2.2 《半導體分立器件和集成電路 第7部分：雙極型晶管》GB/T 4587-1994 IV2.2

14、GJB128A-1997 GB4587-94 半導體分立器件試驗方法半導體分立器件和集成電路.第7部分：雙極型晶體管 GJB128A-1997 GB4587-94 9.6

15、GJB128A-1997 GB4587-95 半導體分立器件試驗方法半導體分立器件和集成電路.第7部分：雙極型晶體管 GJB128A-1997 GB4587-95 5

16、GB/T 4587-94 半導體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 第IV通用測試方法和基準測試方法

17、GJB128A—1997 半導體分立器件試驗方法 方法1039

18、GB/T 4587-1994 半導體分立器件和集成電路第7部分：雙極型晶體管 Ⅳ1/10

一份檢測報告有什么用?

產(chǎn)品檢測報告主要反映了產(chǎn)品各項指標是否達到標準中的合格要求，能夠為企業(yè)產(chǎn)品研發(fā)、投標、電商平臺上架、商超入駐、學校科研提供客觀的參考。

百檢第三方機構檢測服務包括食品、環(huán)境、醫(yī)療、建材、電子、化工、汽車、家居、母嬰、玩具、箱包、水質(zhì)、化妝品、紡織品、日化品、農(nóng)產(chǎn)品等多項領域檢測服務，歡迎咨詢。