在找半導體IGBT電路檢測機構？百檢網為您提供半導體IGBT電路檢測服務，專業工程師對接確認項目、標準后制定方案，包括半導體IGBT電路檢測周期、報價、樣品等，確認無誤后安排寄樣檢測，半導體IGBT電路檢測常規周期3-15個工作日，歡迎咨詢。

檢測樣品：紡織品、化妝品、食品、農產品、絕緣工具、五金件等

報告資質：CNAS/CMA/CAL

報告周期：常規3-15個工作日，特殊樣品、檢測項目除外。

檢測費用：根據檢測項目收費，詳情請咨詢百檢網。

半導體IGBT電路檢測項目：

低溫測試,反向恢復時間trr,密封,開關時間(td(on),tr,tf,td(off)）,最大集電極電流IC,柵極-發射極閾值電壓VGE(ON),柵極漏電流IGES,柵電荷(Qg,Qgs,Qgd),正向跨導gfs,穩態熱阻Rja，Rjc,老煉試驗,集電極-發射極擊穿電壓V(BR)CES,集電極-發射極通態電壓VCE(ON),集電極-發射極飽和電壓VCE(sat),集電極峰值電流ICM,高溫反偏試驗,高溫壽命,高溫測試

百檢檢測流程：

1、電話溝通、確認需求;

2、推薦方案、確認報價;

3、郵寄樣品、安排檢測;

4、進度跟蹤、結果反饋;

5、出具報告、售后服務;

6、如需加急、優先處理;

半導體IGBT電路檢測標準：

1、GB/T4586-1994 半導體分立器件和集成電路 第8部分：場效應功率晶體管 第Ⅳ章第10條

2、JESD51-14-2010 半導體器件結到外殼熱阻瞬態雙界面測試方法

3、GB/T 29332-2012 半導體器件 分立器件第9部分：絕緣柵雙極晶體管（IGBT） 6.3.3

4、GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法 1071

5、GB/T 6571-1995 半導體器件 分立器件 第3部分:信號（包括開關）和調整二極管 第Ⅳ章第1節4.2.3，4.2.4

6、GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 108

7、MIL-STD- 750F 半導體器件的試驗方法 標準試驗方法 MIL-STD-750F

8、 GB/T 29332-201 半導體器件 分立器件第9部分：絕緣柵雙極晶體管（IGBT） GB/T 29332-2012

9、MIL-STD-750F 半導體器件的試驗方法 標準試驗方法 3472.2

一份檢測報告有什么用?

產品檢測報告主要反映了產品各項指標是否達到標準中的合格要求，能夠為企業產品研發、投標、電商平臺上架、商超入駐、學校科研提供客觀的參考。

百檢第三方機構檢測服務包括食品、環境、醫療、建材、電子、化工、汽車、家居、母嬰、玩具、箱包、水質、化妝品、紡織品、日化品、農產品等多項領域檢測服務，歡迎咨詢。