在找三極管檢測(cè)機(jī)構(gòu)?百檢網(wǎng)為您提供三極管檢測(cè)服務(wù),專業(yè)工程師對(duì)接確認(rèn)項(xiàng)目、標(biāo)準(zhǔn)后制定方案,包括三極管檢測(cè)周期、報(bào)價(jià)、樣品等,確認(rèn)無誤后安排寄樣檢測(cè),三極管檢測(cè)常規(guī)周期3-15個(gè)工作日,歡迎咨詢。
檢測(cè)樣品:紡織品、化妝品、食品、農(nóng)產(chǎn)品、絕緣工具、五金件等
報(bào)告資質(zhì):CNAS/CMA/CAL
報(bào)告周期:常規(guī)3-15個(gè)工作日,特殊樣品、檢測(cè)項(xiàng)目除外。
檢測(cè)費(fèi)用:根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目收費(fèi),詳情請(qǐng)咨詢百檢網(wǎng)。
三極管檢測(cè)項(xiàng)目:
發(fā)射極-基極擊穿電壓,發(fā)射極-基極截止電流,基極-發(fā)射極飽和電壓,柵極漏泄電流,正向電流傳輸比,正向跨導(dǎo),漏一源擊穿電壓,漏極截止電流,漏極電流,集電極-發(fā)射極截止電流,集電極-發(fā)射極飽和電壓,集電極-基極擊穿電壓,集電極-基極截止電流,集電極-射極擊穿電壓,靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻,發(fā)射極-基極擊穿電壓V(BR)EBO,發(fā)射極-基極截止電流(IEBO),基極-發(fā)射極飽和電壓(VBEsat),外觀和機(jī)械檢查,放大倍數(shù)(hFEL),老煉,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CEO,集電極-發(fā)射極截止電流(ICEO),集電極-發(fā)射極飽和電壓(VCEsat),集電極-基極擊穿電壓V(BR)CBO,集電極-基極截止電流(ICBO),共發(fā)射極直流電流放大系數(shù),集電極-發(fā)射極擊穿電壓,放大倍數(shù),共發(fā)射極正向電流傳輸比,發(fā)射極—基極擊穿電壓,發(fā)射極—基極截止電流,基極—發(fā)射極飽和電壓,集電極—發(fā)射極擊穿電壓,集電極—發(fā)射極截止電流,集電極—發(fā)射極飽和電壓,集電極—基極擊穿電壓,集電極—基極截止電流,共發(fā)射極正向電流傳輸比h21E,發(fā)射極 –基極截止電流Iebo,發(fā)射極-基極擊穿電壓Vebo,基極-發(fā)射極飽和電壓VbeSsat,集電極 –發(fā)射極截止電流ICEO,集電極 –基極截止電流Icbo,集電極-發(fā)射極維持電壓Vceo,集電極-發(fā)射極飽和電壓Vcesat,集電極-基極擊穿電壓Vcbo,密封,恒定加速度,溫度循環(huán),電性能參數(shù),粒子碰撞噪聲檢測(cè)(PIND),高溫貯存,基極-發(fā)射極飽和電壓VBE(sat),小信號(hào)功率增益,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR) CEO,集電極-發(fā)射極飽和電壓VCE(sat),集電極-基極截止電流ICBO,電性能參數(shù)及特性曲線,發(fā)射極電流為零時(shí)集電極-基極擊穿電壓,溫度循環(huán)(空氣-空氣),集電極-發(fā)射極維持電壓,集電極電流為零時(shí)集電極-基極擊穿電壓,高溫壽命(非工作),共發(fā)射極正向電流傳輸比h,集電極 –發(fā)射極截止電流I
百檢檢測(cè)流程:
1、電話溝通、確認(rèn)需求;
2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià);
3、郵寄樣品、安排檢測(cè);
4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;
5、出具報(bào)告、售后服務(wù);
6、如需加急、優(yōu)先處理;
三極管檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):
1、GJB150.1A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分:通用要求
2、GB/T 4587-1994 半導(dǎo)體分立器件和集成電路第7部分:雙極型晶體管 GB/T 4587-1994
3、GB/T 4587-199 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 GB/T 4587-1994
4、GJB128A-97 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 2071
5、GJB 128A-97 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128A-97
6、GJB 128A-199 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128A-1997
7、GJB33A-97 半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范 4.6
8、GJB128A-1997 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》 方法2071
9、GJB150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn)
10、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 方法3407
11、GJB 128A-1997 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》 GJB 128A-1997
12、GB/T 4586-1994/IEC 747-8-1984 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管 第 IV 章 2
13、GB/T 4587-1994/IEC 747-7-1988 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 GB/T 4587-1994/IEC 747-7-1988
14、GB/T 4586-1994/IEC 747-8-1984 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管 GB/T 4586-1994/IEC 747-8-1984
15、GJB128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 方法3256
16、GB/T4587-1994 《半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管》 Ⅳ.1.10
17、GB/T4587-94 分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 第Ⅳ章第5、第6條
18、GB/T 4587-94 分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 GB/T4587-94
19、GB/T 4587-1994 《半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管》 第Ⅳ章 第1節(jié)9.6
20、GB/T 4587-1994/IEC 747-7-1988 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 第IV 章 第1 節(jié)10.2
一份檢測(cè)報(bào)告有什么用?
產(chǎn)品檢測(cè)報(bào)告主要反映了產(chǎn)品各項(xiàng)指標(biāo)是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)中的合格要求,能夠?yàn)槠髽I(yè)產(chǎn)品研發(fā)、投標(biāo)、電商平臺(tái)上架、商超入駐、學(xué)校科研提供客觀的參考。
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