上海半導體集成電路試驗第三方檢測服務，集成電路第三方測試服務
輸入箝位電壓VIK
輸入高電平電壓VIH
輸入低電平電壓VIL
輸入正向閾值電壓VIT+
輸入負向閾值電壓VIT-
輸出高電平電壓VOH
輸出低電平電壓VOL
輸入高電平電流IIH
輸入低電平電流IIL
輸出高阻態(tài)時高電平電流IOZH
輸出高阻態(tài)時低電平電流IOZL
電源電流IDD
輸出短路電流Ios
輸出由低電平到高電平的傳輸延遲時間tPLH
輸出由高電平到低電平的傳輸延遲時間tPHL
輸出由高阻態(tài)到高電平傳輸延遲時間tPZH
輸出由高阻態(tài)到低電平傳輸延遲時間tPZL
輸出由高電平到高阻態(tài)傳輸延遲時間tPHZ
輸出由低電平到高阻態(tài)傳輸延遲時間tPLZ
輸入箝位電壓VIK
輸出高電平電壓VOH
輸出低電平電壓VOL
輸入電流II
輸入高電平電流IIH
輸入低電平電流IIL
輸出短路電流Ios
輸出截至態(tài)電流IO(OFF)
輸出高阻態(tài)時高電平電流IOZH
輸出高阻態(tài)時低電平電流IOZL
工作狀態(tài)時VDD電源電流IDD
工作狀態(tài)時VCC電源電流ICC
工作狀態(tài)時VBB電源電流IBB
地址取數時間tAA
片選取數時間tAC
開環(huán)電壓增益
輸入失調電壓
輸入偏置電流
輸入失調電流
電源電壓抑制比
共模抑制比
輸出峰峰電壓
單位增益帶寬
輸出電壓轉換速率
靜態(tài)電源電流
導通電阻路差
截止態(tài)漏*漏電流
導通時間
關斷時間
線性誤差
微分線性誤差
電源電壓靈敏度
低溫測試
高溫測試
穩(wěn)定性烘焙
溫度循環(huán)
老煉試驗
恒定加速度
粒子碰撞噪聲檢測(PIND)
細檢漏
粗檢漏